堀場製作所は１０日、粉体の粒子径分布測定と形状解析の機能を標準搭載した分析装置「Ｐａｒｔｉｃａ」を２０２５年1月６日に発売すると発表した。同社の粒子径分布測定装置として約２０年ぶりにフルモデルチェンジし、両機能を従来より高めつつ１台に集約した。粒子径分布測定と形状解析で異なる装置を使っていたユーザーが新製品に切り替えると、測定時間を従来比最大５０％削減できる。

粉体を扱う半導体や電池といった電子部品、医薬品などの多様な市場に提案する。消費税抜きの価格は１９３０万円から。２９年１２月期までに計１７５０台の販売を目指す。

光の散乱を応用し、粒子の大きさや、大きさごとの粒子の構成比を測定する。従来機種の測定範囲や精度は継承しつつ、光源強度を従来比３倍に高め、測定を高感度化した。

粒子形状解析には動的画像式を採用。従来、粒子径分布測定装置のオプションとして展開していた同機能を改良し、搭載した。１マイクロメートル（マイクロは１００万分の１）未満から数ミリメートルまでの粒子形状を捉える。

粒子の大きさと形状を同時測定できることから、両測定が重要な医薬品の吸収効率の分析や、粉体の流動性解析を短時間化できる。