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EUV露光対応フォトマスク…大日印、微細パターン解像に成功

EUV露光対応フォトマスク…大日印、微細パターン解像に成功

2ナノメートル世代以降のEUV露光対応のフォトマスク

大日本印刷(DNP)は、極端紫外線(EUV)露光に対応した2ナノメートル(ナノは10億分の1)世代以降のロジック半導体向けに必要な微細パターンの解像に成功した。ラピダス(東京都千代田区)が2027年に量産開始を目指す2ナノメートル世代ロジック半導体向けに歩留まり向上などの生産技術の確立を進め、27年度に量産・供給開始を目指す。

2ナノメートル世代以降のEUV露光に対応したフォトマスクには、3ナノメートル世代に比べて20%以上縮小したパターンが要求されるほか、形状についても曲線などを含む全ての微細なパターンを同一マスク上で解像させる技術が必要になる。DNPは確立済みの3ナノメートル世代の製造プロセスをベースに改善を重ねた。

DNPはラピダスが参画している新エネルギー・産業技術総合開発機構(NEDO)の事業に再委託先として参画し、最先端ロジック半導体向けフォトマスクの製造プロセスと保証に関わる技術を開発している。


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日刊工業新聞 2024年12月17日

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